| 測定ステップ数 |
高速測定時 |
20000 (リソース容量により制限あり) |
| 測定ポイント(ピン)数 |
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256(標準)〜2048(最大)128単位で増設可能 |
| 測定スピード |
総当りショートオープンチェック |
約1.5sec/500ピン(回路条件付にて) |
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コンポーネントチェック |
約1.4ms〜20msec/Step(回路条件付にて) |
| 測定内容・分解能 |
抵抗 |
0.001Ω〜40MΩ 0.001Ω分解能 |
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※ケルビン測定時 |
0.001Ω〜3.99KΩ 最大1024ピン |
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コンデンサー |
10pF〜40mF 0.1pF分解能 |
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コイル |
10μH〜40H 0.01μH分解能 |
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ダイオード |
0.1V〜40V 0.01V分解能(※オプションにて〜+100V) |
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DC電圧 |
0V〜+/±40V 0.01V分解能(※オプションにて〜+100V) |
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その他 |
デジタルトランジスタ、FET、フォトトランジスタカプラ オンテスト可 |
| 測定範囲 |
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±1%〜+999%,−99%又は絶対値 |
| ガーディング |
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最大10ポイント/ステップ |
| 入力電源 |
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AC100〜260V自動切換え、50/60Hz |
| 使用エアー |
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0.5MPa |
| 外形寸法 |
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W:620mm D:850mm H:1680mm/ST(立作業)モデル
(※デスクモデル、コンパクトモデル、インラインモデルは別途問い合わせ願います。)
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| 重量 |
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約250kg |
| その他 |
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ダブルプレス対応可 |